Evaluation de deux méthodes de spectroscopie portables pour l’analyse directe des métaux particulaires

L’évaluation des expositions des travailleurs aux métaux et métalloïdes revête une importance cruciale dans le domaine de l'hygiène industrielle. Ainsi, l’importance des effets sanitaires associés à l’exposition à ces éléments a récemment conduit à la mise en place ou à l’abaissement de valeurs limites de nombreux métaux. Actuellement les méthodes de référence d’analyse des aérosols particulaires inorganiques sont différées, chronophages et requièrent parfois l’ajout de réactifs chimiques dangereux. Elles restent néanmoins nécessaires pour obtenir les concentrations des métaux afin de les comparer à leurs valeurs limites réglementaires.
Il existe peu de méthodes d’analyse directe des métaux, c’est-à-dire sans préparation préalable et, lorsqu’elles existent, elles restent peu sélectives et peu sensibles par rapport aux méthodes conventionnelles. Cependant, deux appareils portables complémentaires, basés sur l’analyse spectroscopique, semblent avoir des conditions suffisantes dans un contexte d’évaluation voire de caractérisation des expositions en hygiène industrielle in situ : la fluorescence X (XRFp) et la spectroscopie d'émission optique induite par laser (LIBSp).
Ces travaux visent donc à préciser les conditions afin de pouvoir procéder à des analyses in situ d’échantillons collectés sur un support de dispositif de prélèvement de fraction(s) conventionnelle(s) à l’issue d’un poste de travail. Cela permettra de qualifier les éléments chimiques pouvant contribuer à une exposition significative aux métaux, voire d’aller jusqu’à la comparaison à une VLEP des éléments identifiés. Une autre approche via des prélèvements des surfaces devrait permettre de mettre en évidence les risques de contaminations surfaciques au niveau des postes de travail. L’utilisation d’approche novatrice basée sur des outils d’intelligence artificielle permettrait de lever les principaux verrous scientifiques liés au traitement du signal dans nos matrices d’intérêt.