Du 21 au 23 juillet 2010 se tenait à Keystone, aux États-Unis, le premier congrès international spécifiquement dédié à la surveillance médicale et à la recherche épidémiologique chez les travailleurs exposés aux nanomatériaux. Cette manifestation, qui réunissait l'ensemble des parties prenantes sur cette thématique (médecins, chercheurs, épidémiologistes, industriels, organisations gouvernementales et non gouvernementales...), fut l'occasion de confronter les expériences et les points de vue de chacun. Quels enseignements peut-on tirer de tels débats ? Cet article n'a pas vocation à présenter de façon exhaustive l'ensemble des communications du congrès, mais à synthétiser les connaissances scientifiques sur le sujet au niveau international pour proposer un dispositif de surveillance médicale réaliste applicable dans les services de santé au travail dans le contexte réglementaire français.
Description et informations techniques
Support
Article de 5 pages, publié dans le trimestriel Documents pour le médecin du travail n°124
Référence INRS
TP 11
Auteur(s)
MALARD S., RADAUCEANU A.
Date de publication
12/2010
Rubrique
Suivi pour vous
Ressources complémentaires de l'INRS
Sur le thème : Focus sur des agents chimiques particuliers