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Surveillance médicale des travailleurs exposés à des nanomatériaux. Les enseignements du congrès de Keystone

DMT assistance

Article de revue12/2010

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Du 21 au 23 juillet 2010 se tenait à Keystone, aux États-Unis, le premier congrès international spécifiquement dédié à la surveillance médicale et à la recherche épidémiologique chez les travailleurs exposés aux nanomatériaux. Cette manifestation, qui réunissait l'ensemble des parties prenantes sur cette thématique (médecins, chercheurs, épidémiologistes, industriels, organisations gouvernementales et non gouvernementales...), fut l'occasion de confronter les expériences et les points de vue de chacun.
Quels enseignements peut-on tirer de tels débats ? Cet article n'a pas vocation à présenter de façon exhaustive l'ensemble des communications du congrès, mais à synthétiser les connaissances scientifiques sur le sujet au niveau international pour proposer un dispositif de surveillance médicale réaliste applicable dans les services de santé au travail dans le contexte réglementaire français.

  • Description et informations techniques
    • Document original

      Article de 5 pages, publié dans la revue Documents pour le médecin du travail
    • Référence INRS

      TP 11
    • Auteur(s)

      MALARD S., RADAUCEANU A.
    • Date de publication

      12/2010
    • Collection

      DMT assistance

Ressources complémentaires de l'INRS

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