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Surveillance médicale des travailleurs exposés à des nanomatériaux. Les enseignements du congrès de Keystone

Article de revue

Du 21 au 23 juillet 2010 se tenait à Keystone, aux États-Unis, le premier congrès international spécifiquement dédié à la surveillance médicale et à la recherche épidémiologique chez les travailleurs exposés aux nanomatériaux. Cette manifestation, qui réunissait l'ensemble des parties prenantes sur cette thématique (médecins, chercheurs, épidémiologistes, industriels, organisations gouvernementales et non gouvernementales...), fut l'occasion de confronter les expériences et les points de vue de chacun.
Quels enseignements peut-on tirer de tels débats ? Cet article n'a pas vocation à présenter de façon exhaustive l'ensemble des communications du congrès, mais à synthétiser les connaissances scientifiques sur le sujet au niveau international pour proposer un dispositif de surveillance médicale réaliste applicable dans les services de santé au travail dans le contexte réglementaire français.

Revue

Support

Article de 5 pages, publié dans le n°124

Référence INRS

TP 11

Auteur(s)

MALARD S.,RADAUCEANU A.

Date de publication

12/2010

Rubrique

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Focus sur des agents chimiques particuliers